我們相信優質的產品是信譽的保證！
致力于成為優秀的解決方案供應商！
2025-08-28
2025-07-17
2025-06-26
2025-06-26
2025-05-28
產品中心/ products
霍爾遷移率測試儀主要利用微波測試原理，非接觸式測量射頻HEMT結構半導體材料的方阻、遷移率及載流子濃度。可實現單點測試，亦可以實現面掃描的測試功能，具有快速，無損，準確等優勢，可用于材料研發及工藝的監...
渦流法?電阻率方阻是一種利用電磁感應原理進行檢測的方法。當載有交變電流的試驗線圈靠近導體工件時，會產生交變磁場，進而在工件中感生出密閉的環狀電流，即渦流。渦流的大小、相位及流動形式受到工件性質（如電導...
設備主要利用渦電流測試原理，非接觸測試半導體材料，石墨烯，透明導電膜，碳納米管，金屬等材料的方阻（電阻率）。可實現單點測試，亦可以實現面掃描的測試功能，可用于材料研發及工藝的監測及質量控制
PN型測試儀可以測試硅片PN型號、硅片厚度也是影響生產力的一個因素，因為它關系到每個硅塊所生產出的硅片數量。超薄的硅片給線鋸技術提出了額外的挑戰，因為其生產過程要困難得多。除了硅片的機械脆性以外，如果...
我司主營：晶圓電阻率測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測試儀，遷移率少子壽命測試儀。
渦流法電阻率測試儀的樣品尺寸：2“-8“或者16mm×16mm的方形樣品；遷移率測量范圍：100-20000（cm2/v.sec)；方塊電阻測量范圍：100-3000（ohm/sq)；載流子...
晶圓電阻率測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測試儀，少子壽命測試儀，為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產和品質監控，提供一整套完整測試和解決方案。
晶圓電阻率測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測試儀，少子壽命測試儀，為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產和品質監控，提供一整套完整測試和解決方案。
主營產品：晶圓方阻測試儀、晶圓電阻率測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測試儀，少子壽命測試儀，測試硅片，碳化硅、科研大學提供服務。
您的位置：
